等离子体所在对比Ar/Ne不同杂质注入对偏滤器行为和芯部约束的影响等研究方面取得新进展

　　近日，等离子体所EAST团队科研人员在辐射偏滤器实验中取得新进展，研究了不同的杂质气体（Ar和Ne）注入对偏滤器状态和芯部约束的影响，相关成果由博士生李克栋等人以“Comparison of divertor behavior and plasma confinement between argon and neon seeding in EAST”为题发表在核聚变领域重要期刊Nuclear Fusion上（Kedong Li et al 2021 Nucl. Fusion 61 066013）。

　　托卡马克的高功率长脉冲运行，将导致打到偏滤器靶板的粒子流和热流越来越大，从而使靶板表面受到强烈的溅射刻蚀，靶板热负荷将超过材料/部件可承受的数倍。而靶板损伤产生的杂质可能输运到芯部，影响聚变等离子体品质，增加稳定控制等离子体的难度。降低靶板的溅射和表面热沉积最有效的等离子体物理方案就是在边界适当引入杂质，通过辐射和电荷交换降低靶板表面附近的电子温度，这就是可有效降低靶板热负荷的辐射偏滤器运行方式。EAST团队结合高参数长脉冲运行需求，最近几年不断开展了辐射偏滤器实验，研究了不同充气位置、不同充气种类（Ne，Ar，D2）注入对偏滤器等离子体行为及粒子流和热流分布的影响。

　　在最近的一系列EAST辐射偏滤器物理实验中，通过Ar和Ne的注入，实现了上外偏滤器打击点附近的部分能量脱靶，材料溅射也得到了很好抑制。但研究表明，目前EAST条件下无论是Ar或Ne从上外偏滤器注入时，上内偏滤器打击点附近的电子温度均维持在10eV以上，未能实现脱靶，无法充分保护上内偏滤器靶板表面。另外在Ar注入实现部分能量脱靶时，芯部约束有所下降，而对于Ne注入，芯部约束则有一个轻微的提升（~10%）。这些研究成果为实现并维持钨偏滤器条件下的稳态等离子体，解决靶板的稳态热负荷和溅射刻蚀问题，保障EAST装置在高功率长脉冲条件下的稳定运行提供了可供参考的物理实验方案。

　　论文链接： https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1741-4326/abf418 

　　图：EAST #85282（Ar注入）和 #85291（Ne注入）放电参数对比