负责人: 杨清泉 

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　　系统简介和主要测量参数 

　　偏滤器杂质相机系统可提供高时空分辨的偏滤器区域可见光波段杂质辐射二维分布情况。该诊断的建成能够对偏滤器区域杂质辐射进行高时空分辨地测量，给出偏滤器区域杂质辐射的空间分布、杂质输运规律，为EAST等离子体杂质控制及辐射偏滤器相关实验提供关键物理信息。在换装滤波片后也能够提供偏滤器区域Dα辐射二维分布情况。该系统可为EAST高参数长脉冲稳态运行、辐射偏滤器等物理实验，以及升级改造后的下偏滤器性能评估提供关键技术支撑。 

　　-可诊断的等离子体参数：高时空分辨的偏滤器区域杂质辐射二维分布 

　　-性能参数 

　　1、可测杂质辐射波长范围：380~750nm 

　　2、水平方向视场（H）：-9.5°～9.5° 

　　3、竖直方向视场（V）：-7.0°～7.0° 

　　4、参考物距：2200mm 

　　5、景深：1300～3000mm 

　　6、相对口径：D/f = 1: 6 

　　7、空间分辨率： ≤2mm 

　　8、相机时间分辨率：≤20μs 

　   -安装位置： F窗口