负责人: 周瑞杰 

　　联系电话：0551-65595202 

　　电子邮箱：rjzhou@ipp.ac.cn  

　　编写时间：2020年11月30日 

　　系统简介和主要测量参数 

　　等离子体内逃逸电子和其它电子和离子碰撞产生薄靶韧致辐射，逃逸电子损失出等离子体后撞击在限制器或装置第一壁上产生厚靶韧致辐射，这些韧致辐射处于高能硬X射线范围。逃逸电子诊断就是测量高能硬X射线来反映和研究逃逸电子的行为演化。 

　　由于逃逸电子能量高，等离子体内部它和其他粒子间的碰撞频率很低，大部分情况下这部分薄靶韧致辐射很弱，一般所产生的高能硬X射线计数太低，得不到很好的能谱，即便是用很多炮的计数叠加在一起，也很难排除其他X射线的干扰。对于逃逸电子，厚靶韧致辐射一般较强，在逃逸电子损失时这部分高能硬X射线占主导地位。但是，在一些特殊情况下和特别的放电时间段内，薄靶韧致辐射也可以很强，并占主导地位。所以，使用逃逸电子诊断提供的实验数据需要小心谨慎，理解诊断原理并分析实验条件。如有需要，请联系诊断负责人。 

　　-能量范围: 0.5 MeV-20 MeV 

　　（提供通量数据；能谱数据功能现在由伽马射线诊断提供。） 

　　-脉冲宽度：5μs - 20 ms 

　　（不同信号脉冲宽度不同，对应的信号带宽不同。） 

　　-信号采样率: 200 kHz 

　　（借助中子诊断自采系统，数据上传EAST一级数据库。） 

　　系统布局 

　　因涉及EAST装置升级改造，逃逸电子诊断系统的系统布局将在以后提供。 

　　如需获取该诊断的更多信息及数据读取方法，请查看EAST-Wiki内网逃逸电子诊断页面。 

　　http://east.ipp.ac.cn/wiki/index.php/Runaway_electron_diagnostic_system