负责人: 徐明 

　　联系电话：0551-65591763 

　　电子邮箱：mxu@ipp.ac.cn  

　　系统简介和主要测量参数 

　　软X射线能谱诊断一般又称为软X射线脉冲高度分析仪(Soft X-ray Pulse Height Analysis)，所以又缩写为SXPHA。目前EAST上SXPHA采用了硅漂移半导体探测器(Silicon Drift Detector, SDD)，SDD采用电制冷的方式，使得结构简单且干扰较小。SDD的能量覆盖在1~30keV区间，且能量分辨率最高可达到153eV (在5.9keV处)。 

　　-可诊断的等离子体参数：杂质谱线、电子温度和电子能谱分布信息。 

　　-诊断所在位置：位于A窗口上半空间，可以观察到中平面到下半空间，如图所示。 

　　-空间位置：覆盖范围从-50cm-6cm，设计参数为10个观察位置，目前5道可用，可以给出部分空间位置的参数信息。 

　　-时间分辨率：最高可达 20ms。 

　　英文链接为： http://east.ipp.ac.cn/wiki/index.php/Soft_X-ray_spectrum