负责人: 段艳敏
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系统简介和主要测量参数
辐射量热诊断主要实现对等离子体总辐射功率和辐射功率密度分布的测量,是研究能量平衡、约束与输运、装置安全控制、先进偏滤器热控制等必不可少的基本诊断之一。EAST上辐射量热诊断技术经过多年的发展,目前已成功研制了两套基于不同探测技术的诊断系统。一套采用宽谱硅半导体二极管阵列(AXUV Photodiodes )技术,另一种采用金属薄膜辐射热仪技术(Foil Bolometer)。在EAST实验中,为实验运行和不同研究主题提供了大量的数据支持。
-可诊断的等离子体参数:总辐射功率、局域辐射功率、辐射功率剖面分布、芯部-边界辐射扰动等等物理信息。
-诊断所在位置: EAST的P水平窗口(AXUV)和O水平窗口 (BOLO.), C垂直上窗口 (AXUV&BOLO), C垂直下窗口(AXUV, 研制中)。
-AXUV 系统采用16路或者20路集成半导体二极管阵列,目前已投入实验运行4个水平阵列约64路,2个垂直阵列约40路,正在研制中的局域偏滤器阵列3个约60路。Foil Bolometer 系统采用4路集成的金属膜电阻类型探测器,目前已投入实验运行水平阵列40路,垂直阵列16路。
-极向空间分辨率:3-6cm
-时间分辨率:0.01-0.1ms(AXUV),1-2ms(BOLO)
-响应能量范围:7eV-6keV(AXUV), 红外-10keV
相关论文链接:http://dx.doi.org/10.1063/1.4748859
如需获取该诊断的更多信息及数据读取方法,请查看EAST-Wiki内网偏滤器探针诊断页面
http://202.127.204.44/wiki/index.php/Bolometer_diagnostic
http://202.127.204.44/wiki/index.php/Fast_bolometer